产品分类
Products
行业分类
Industry Classification
联系我们
Contact us
CST-50型冲击试样缺口投影仪
时间:2014-05-13 15:37 点击:次
功能特点：
CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的必备专用设备。
投影仪技术参数：
投影屏： 200×200mm
放大倍数： 50X
光源： 12V 100W（卤钨灯）
电源： 220V 50Hz 150W
外型尺寸： 515×224×603mm
重量： 约18Kg
CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的必备专用设备。
投影仪技术参数：
投影屏： 200×200mm
放大倍数： 50X
光源： 12V 100W（卤钨灯）
电源： 220V 50Hz 150W
外型尺寸： 515×224×603mm
重量： 约18Kg